大功率激光器老化系統_芯片老化測試_泵浦源老化系統_泵浦激光器特性測試—武漢普賽斯儀表有限公司-普賽斯儀表國產化高精度數字源表_窄脈沖LIV測試_高電流脈沖電源_高電壓源_IGBT測試系統

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LDBI多路大功率激光器老化系統

普賽斯多路大功率激光器老化系統專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出一套通用性好、大功率、循環水冷的老化測試系統。產品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩定、抗干擾能力強，并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案。

產品特點

● 單抽屜最多支持16路，最多8抽屜

● 各通道互相獨立

● 電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數據

● 加熱膜加熱，溫控范圍室溫~125℃

● 電源抗浪涌設計

● 收光裝置水冷

● 絕對精度±1℃，不同 DUT溫度均勻性±2℃

● 老化數據自動記錄與數據導出

產品選型

項目	工作模式	脈沖寬度	脈沖頻率	電壓測量	電壓測量通道數	光電流檢測	光電流檢測通道數
技術指標	CW及QCW	最小100μs，最大3ms	0~10kHz，步進0.1Hz	0-100V，0.1%FS±80mV	16通道	0~10mA 量程，0.5%±60μW	1路，可支持16路分時復用
		步進1μs
		最大占空比3%